Langer, J.; Jimenez de Aberasturi, D.; Aizpurua, J.; Alvarez-Puebla, R.A.; Auguié, B.; Baumberg, J.J.; Bazan, G.C.; Bell, S.E.J.; Boisen, A.; Brolo, A.G.; Choo, J.; Cialla-May, D.; Deckert, V.; Fabris, L.; Faulds, K.; García de Abajo, F.J.; Goodacre, R.; Graham, D.; Haes, A.J.; Haynes, C.L.; Huck, C.; Itoh, T.; Käll, M.; Kneipp, J.; Kotov, N.A.; Kuang, H.; Le Ru, E.C.; Lee, H.K.; Li, J.F.; Ling, X.Y.; Maier, S.A.; Mayerhöfer, T.; Moskovits, M.; Murakoshi, K.; Nam, J.M.; Nie, S.; Ozaki, Y.; Pastoriza-Santos, I.; Perez-Juste, J.; Popp, J.; Pucci, A.; Reich, S.; Ren, B.; Schatz, G.C.; Shegai, T.; Schlücker, S.; Tay, L.L.; Thomas, K.G.; Tian, Z.Q.; Van Duyne, R.P.; Vo-Dinh, T.; Wang, Y.; Willets, K.A.; Xu, C.; Xu, H.; Xu, Y.; Yamamoto, Y.S.; Zhao, B.; Liz-Marzán, L.M. Present and future of surface-enhanced Raman scattering.
ACS Nano, 2020,
14(1), 28-117.
[
http://dx.doi.org/10.1021/acsnano.9b04224] [PMID:
31478375]